电连接器用玻璃的封接工艺优化与连接机理

作者:郭宏伟; 党梦阳; CHI Longxing; 童强; 李明阳; 赵聪聪
来源:硅酸盐通报, 2019, 38(11): 3506-3523.
DOI:10.16552/j.cnki.issn1001-1625.2019.11.020

摘要

采用高温熔融淬冷工艺制备了电连接器用封接玻璃。利用扫描电子显微镜(SEM)、能谱分析(EDS)、氦质谱检漏仪(HEMS)、高温热膨胀测试仪(HTTE)等分析测试手段,优化研究了基础封接玻璃组成以及封接器件中玻璃-芯柱之间的制备工艺。结果表明,电连接器的最佳封接温度为950℃、封接时间为12 min、N2流量为2.0 m3/h、芯柱的抗压强度可达122 MPa。封接后金属表面层的化学键由单一的金属键逐渐变化为离子-共价键,通过金属键、离子-共价键、离子-共价混合键这一过渡区域使得玻璃-金属达到良好的连接。