引线框架表面缺陷与解决方法浅析

作者：李六军; 李习周; 郭昌宏

来源：中国集成电路, 2021, 30(08): 74-79.

• 引线框架
• 异常
• 解决方法

本文简述了集成电路引线框架的特性,分析了引线框架表面异常对集成电路封装过程及可靠性的影响。阐述了引线框架表面氧化及洁净度对工艺的影响机理,在此基础上说明了解决办法和改善措施。

• 单位
  天水华天科技股份有限公司