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引线框架表面缺陷与解决方法浅析
作者:李六军; 李习周; 郭昌宏
来源:
中国集成电路
, 2021, 30(08): 74-79.
引线框架
异常
解决方法
摘要
本文简述了集成电路引线框架的特性,分析了引线框架表面异常对集成电路封装过程及可靠性的影响。阐述了引线框架表面氧化及洁净度对工艺的影响机理,在此基础上说明了解决办法和改善措施。
单位
天水华天科技股份有限公司
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