FLASH写溢出功能测试与问题分析

作者：宁静; 刘国斌; 祝周荣; 刘伟; 陈云

来源：数字技术与应用, 2018, 36(04): 212-213.

DOI：10.19695/j.cnki.cn12-1369.2018.04.107

• FLASH
• 自动写停
• 擦除操作
• FPGA

当使用FLASH来存储数据时,相同的地址不能重复写入数据。在没有擦除的情况下,重复对同一个地址进行写操作,会使得存储的数据内容出错,从而导致从FLASH中读出的数据出错。因此,需要对FLASH的写溢出功能进行测试。当FLASH中的所有好块被占用,FPGA应能自动停止写入数据,等待下一轮的写操作。