为提高电子器件的柔韧性和延展性,常在制造过程中引入预加应变,使得电子结构发生皱曲行为,进而演变成适应产品需求的不同失稳模式。本文基于更新的拉格朗日增量公式和Floquet理论,提出了含有预应力效应的求解柔性结构表面皱曲的计算方法——半解析有限元方法,并采用该方法研究了不同"硬质薄膜,柔性基底"结构(芯-壳结构(如图1)等多层结构)的临界屈曲应变和褶皱波长(如图2),并将计算结果和已有文献结果进行对比,证明方法的有效性和结果的准确性。