铝电解质物相组成对X射线衍射法测定分子比的影响

作者：李波; 张树朝; 王文广; 瞿媛媛; 冯敬东

来源：冶金分析, 2023, 43(12): 47-52.

DOI：10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.012163

• 铝电解质
• 物相
• 分子比
• X射线衍射(XRD)
• 氧化铝
• 氟化钙

铝电解质分子比升高，电解质的初晶温度升高；相反，初晶温度降低。准确测定铝电解质分子比对生产具有重要的指导意义。在几种测定分子比的方法中，X射线衍射法(XRD)因具有制样简单、分析速度快等优点，在电解铝企业广泛应用。但随着铝电解质成分复杂化，不少企业发现X射线衍射法测定的分子比并不能指导生产，且结果与化学分析的结果差别较大。由于对X射线衍射法测定分子比的原理、影响因素等不够清楚，因此很难发现产生差别的原因。本文针对上述问题，分析了X射线衍射法测定分子比的原理，推导了X射线衍射法测定复杂铝电解质分子比的理论公式，给出了测试的物相和衍射峰。探究了测定结果不准确的原因，以期对行业发展有一定的指导作用。