MC模拟稻米中Cd元素的XRF法检测

作者：张丽娇; 汤彬; 李福生; 刘志锋; 张雄杰; 张焱

来源：核电子学与探测技术, 2019, 39(02): 173-177.

DOI：10.3969/j.issn.0258-0934.2019.02.011

• 重金属元素
• X射线荧光光谱法
• 靶材
• 管压
• 滤光片

对XRF法测定稻米中重金属元素时X射线管激发条件和滤光片等测量条件的选择作了理论分析;以Cd元素为例,讨论其最优方案,再通过MC软件进行蒙特卡罗模拟,计算出峰背比,得到各最优值,验证理论分析的准确性。X射线管采用激发较强初级X射线的W靶,管压模拟结果显示,最佳值为80 kV,与理论估算相吻合;滤光片模拟结果显示:Al、Fe和Cu滤光片的厚度分别在1 800、200和130μm时,峰背比最大,三者均与理论估算一致。通过比较,滤光片的最佳条件应为200μm的Fe片。

• 单位
  东华理工大学