典型存储器动态老炼试验方法研究与实现

作者：罗俊杰

来源：电子世界, 2021, (02): 137-143.

DOI：10.19353/j.cnki.dzsj.2021.02.056

<正>存储器动态老炼试验对提高存储器的使用可靠性有着重要的作用。本文以SRAM器件为例,详细阐述了存储器动态老炼试验方法的研究方案,并实现了SRAM器件的动态老炼。该方法具有通用性,也适用于其它类型存储器的动态老炼试验。存储器是一种常用的数字集成电路,其应用领域极为广泛,凡是需要记录数据或各种信号的场合都离不开它,尤其在计算机中,存储器是不可缺少的一个重要组成部分。在军事、航空航天等领域,存储器也有着广泛的应用,军事、航空航天等领域对其质量保证的可靠性提出了更高的要求,然而电路在大批量生产制造的过程中由于人的因素、制造设备、生产材料、制造工艺、生产环境等不确定的因素,可能会造成生产完成的部分集成电路内部存在缺陷。

• 单位
  中国航天科工集团公司