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摘要
盆式绝缘子作为气体绝缘组合电器（GIS）最薄弱的绝缘环节，其表面缺陷是提高GIS设备绝缘强度研究中的关键问题。本文首先介绍了气泡缺陷、异物缺陷、表面脏污以及裂纹缺陷等盆式绝缘子常见表面缺陷的产生和发展机理；其次分析总结了盆式绝缘子表面缺陷诱发闪络的发生机制，明确了盆式绝缘子表面电场分布及表面电荷积聚是影响绝缘子沿面闪络的重要因素；此外，归纳了现有盆式绝缘子表面缺陷诊断方法的利弊；最后，鉴于工频电压激励下盆式绝缘子表面缺陷局部放电检测方法的不足，从激励局部放电的电压模式入手，研究并总结了不同电压激励下盆式绝缘子表面缺陷局部放电检测方法的现状。
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