摘要
分子筛膜因其高效、节能、稳定的特点,已应用于渗透汽化、膜蒸馏、气体分离等领域。然而,膜面晶间缺陷是影响分子筛膜分离性能的主要因素之一,阻碍分子筛膜进一步工业应用。本文从“合成中控制技术”和“合成后修复技术”两个角度综述了近年来国内外研究者对分子筛膜晶间缺陷控制与修复技术的最新研究进展。其中,“合成中控制”部分主要关注分子筛膜层生长过程中导致缺陷生成的因素及其控制手段,包括支撑体性质、分子筛晶种性质、晶种涂覆方式、二次水热生长调节方式和焙烧脱模方式等;“合成后修复”部分主要介绍了应对成膜后晶间缺陷的修饰与封堵技术。消除晶间缺陷的总体思路是通过技术手段增强晶体面内交互共生特性、减少热致开裂以及开发更加精准、高效、低耗的修复技术。未来,面对更高的产业化要求,应整合制备全流程的缺陷控制与修复手段,开发低成本、低能耗、短流程的膜制备技术。
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单位中国石油化工股份有限公司石油化工科学研究院