先进光谱椭偏测量技术及其在OLED中的应用

作者：谷洪刚; 柯贤华; 丁可; 赵雪楠; 李先杰; 刘世元^*

来源：微纳电子与智能制造, 2020, 2(02): 41-62.

DOI：10.19816/j.cnki.10-1594/tn.2020.02.041

• 光谱椭偏
• 有机发光二极管
• 纳米薄膜测量
• 光学常数表征
• 分子取向
• 光学各向异性
• 光学模拟
• 协同优化设计

阐述光谱椭偏测量技术基本原理和椭偏测量数据分析方法 ,发展宽光谱穆勒矩阵椭偏仪等先进光谱椭偏测量技术和仪器。利用光谱椭偏测量技术精确标定典型OLED(organic light-emitting diode)材料基础光学数据,分析揭示有机材料分子取向及其导致的光学各向异性。构建复杂叠层有机发光器件光学计算模型,模拟分析其关键性能参数,提出光学协同优化设计方法 ,指导高性能OLED器件设计。结果和讨论展示了光谱椭偏技术在OLED材料与器件表征以及高性能OLED器件设计中的应用。

• 单位
  华中科技大学; 武汉华星光电半导体显示技术有限公司