XRF和LA-ICPMS测定硫化物熔片中的主次量元素

作者：徐娟; 杨守业; 胡兆初; 罗涛; 黄湘通

来源：光谱学与光谱分析, 2016, 36(11): 3683-3688.

• 硫化物
• X射线荧光光谱仪
• 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪
• 氧化剂
• 二氧化锗

采用高纯HNO3为氧化剂代替传统的氧化剂,以GeO2为玻璃化试剂,建立了一种简单、高效的硫化物熔融玻璃片的前处理方法。XRF和LA-ICPMS分析结果表明,相对于粉末压片法,熔片法制备的样品具有更好的均一性和可靠性。3种硫化物国家一级标准物质的XRF和LA-ICPMS主次量元素(Si,Al,Fe,Mg,K,Ca,Na,Mn,Cu,Zn)分析测试结果均与推荐值相吻合(Ti缺少推荐值),测定误差都在允许范围内,XRF三次熔片测试结果的精密度RSD<5.6%;LA-ICPMS 15次测试结果精密度RSD<3%。表明建立的硫化物熔融玻璃片的前处理方法可较好的应用于XRF和LA-ICPMS分析硫化物中的主次量元素。

• 单位
  同济大学; 地质过程与矿产资源国家重点实验室; 海洋地质国家重点实验室