伪影减少模式对不同材料全冠继发龋检测的影响

作者：屠青青; 黄凌霞; 周杭涛; 陈建治^*

来源：口腔颌面修复学杂志, 2021, 22(02): 120-123.

DOI：10.19748/j.cn.kqxf.1009-3761.2021.02.010

• 伪影减少模式
• 全冠修复
• 继发龋
• 锥形束计算机断层成像

目的:探讨在不拆除固定义齿的情况下,伪影减少(artefact reduction, AR)模式对不同材料全冠修复体下继发龋检测能力的影响。方法:将8颗因龋坏拔出的第三磨牙用蜡块充填修复后,根据全瓷冠的预备要求完成牙体预备,每颗基牙制作钴铬金属、纯钛金属、铸瓷及氧化锆全瓷的冠部固定修复体。通过锥形束计算机断层成像(cone beam computed tomography,CBCT)对每个全冠修复下的继发龋模型分有/无AR模式分别进行扫描,SPSS软件分析评估轴向截面图像的表现并计算分析龋病与健康牙本质的灰度值差值。结果:AR模式有无对纯钛及钴铬全冠的龋病与牙本质的灰度值间有统计学意义(P<0.05),而铸瓷及氧化锆未见明显差异(P>0.05)。AR模式的有无仅在纯钛金属冠的龋病与牙本质的灰度值差值d间存在显著差异(P<0.05),其余修复材料未见明显差异(P>0.05)。不论AR模式的有无,d值大小满足:铸瓷>纯钛>钴铬>氧化锆,且有AR模式的d值均总体小于无AR模式。结论:AR模式不利于检测全冠下的继发龋。

• 单位
  浙江中医药大学