基于高灵敏测量的GIS绝缘子表面微金属颗粒局部放电特性

作者：许渊^*; 刘卫东; 陈维江; 杨景刚; 赵科; 刘媛

来源：高电压技术, 2019, 45(09): 2707-2714.

DOI：10.13336/j.1003-6520.hve.20190831003

• GIS
• 脉冲电流法
• 特高频法
• 绝缘子表面
• 微金属颗粒
• 局部放电

近年来GIS绝缘子沿面闪络故障频发,闪络诱因通常认为是绝缘子表面微金属颗粒,但实际运行电压下GIS绝缘子表面不同长度亚毫米/毫米级微金属颗粒的局部放电量水平一直不被掌握。文中基于脉冲电流互参考法,建立了局放识别能力达0.02pC的高灵敏GIS脉冲电流局部放电测量系统,在接近实际运行电压水平下,获得了126k VGIS绝缘子表面0.5、2、5、8、10mm微金属颗粒的局部放电量和放电特征,发现绝缘子表面单个5mm以下金属颗粒的局部放电量低于1p C,特高频法很难检测到,揭示了GIS绝缘子表面亚毫米/毫米级微金属颗粒长度、位置对局部放电特性的影响规律,颗粒长度越短,所处位置绝缘子表面场强越低,放电量越低,证明了现行局放出厂试验标准和特高频方法对GIS绝缘子表面微金属颗粒检测存在的不足。

• 单位
  电子工程学院; 华北电力大学; 清华大学; 中国电力科学研究院有限公司; 国家电网有限公司