少层氮化硼的生长机理及技术研究

作者:李传皓*; 李忠辉; 彭大青; 张东国; 杨乾坤; 潘传奇; 沈睿
来源:固体电子学研究与进展, 2022, 42(06): 510-520.
DOI:10.19623/j.cnki.rpsse.2022.06.012

摘要

采用MOCVD技术在50.8 mm(2英寸)蓝宝石衬底上开展氮化硼(BN)材料的外延生长研究。基于Ⅴ/Ⅲ族源的同时输运工艺,探究了无序岛状、生长自终止及二维层状等三种BN生长模式的外延机理,并实现了5-6层原子厚的二维BN材料的制备。同时,提出了一种Ⅴ/Ⅲ族源的同时输运及分时输运相结合的外延生长工艺,显著提升了二维BN材料质量,其中1μm×1μm表面粗糙度Ra为0.10 nm,光学带隙宽度为5.77 eV,拉曼E2g模式的半高宽为60.7 cm-1。

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