考虑某类微分系统特征值(又称谱)的上界估计,利用分部积分、Rayleigh定理和不等式估计等方法和技巧,获得了用前n个特征值来估计第n+1个特征值的上界不等式,其估计系数与区域的几何度无关,其结果在物理和力学等领域中应用广泛。