基于失效分析的功率MOSFET应用可靠性研究

作者：唐万军; 张世莉

来源：环境技术, 2020, 38(01): 57-80.

• 失效分析
• MOSFET
• 可靠性

功率MOSFET因良好的压控开关特性和低导通阻抗特点,在功率电子电路中应用广泛。该类器件对装配工艺及设计应用有较高要求,本文在对几例功率MOSFET器件失效进行分析的基础上,总结了影响器件应用可靠性的因素,给出了相应的控制措施。

• 单位
  中国电子科技集团公司第二十四研究所