基于田口法对无边框液晶模组L0漏光改善研究

作者：唐胜果^*; 赵曼; 王明明; 赵辉; 钱小丽; 李兰; 李倩; 赵凯旋; 徐海丰; 余丽霞

来源：液晶与显示, 2019, 34(07): 667-675.

• L0漏光
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• 无边框液晶模组
• 田口法

为改善无边框液晶模组L0漏光,本文通过对影响面板透过率的液晶材料、PI原材、ODF工艺、PI涂布及其摩擦工艺等诸多因素研究,筛选出预固化温度&时间、PI膜厚、TFT&CT面摩擦强度、TFT&CT摩擦布共7个影响因子;选择面板翘曲度为噪声因子,通过量测不同程度L0漏光对应的面板翘曲,并对L0漏光程度与翘曲进行二次拟合,以此分别选取翘曲为1.8～2.1μm及6.4～8.0μm的面板作为噪声因子高低水平。按L8设计田口实验,采用Jump14运行试验结果,结果显示,预固化温度设置为140℃,预固化时间设置为130s,PI膜厚设置为75nm,TFT面摩擦强度设置为14mm,CF面摩擦强度设置为15.5mm,其他参数维持量产条件,S/N可得到最大值-2.63。该条件下实际平均漏光水平从参数调整前的2.25下降到调整后的1.04。特别地,在漏光高发的翘曲区域,即6.4～8.0μm时,L0漏光均值从3.07下降到1.7,预测漏光程度大于level 3的不良率从6.2%下降到0.2%。

• 单位
  合肥鑫晟光电科技有限公司