可编程器件测试方法及失效机理探讨

作者：韦东; 蒋冬

来源：电子世界, 2018, (22): 69-70.

DOI：10.19353/j.cnki.dzsj.2018.22.036

<正>本文对存储器及其它可编程器件的测试方法及失效机理进行了介绍,同时对这类器件在测试筛选及使用中出现的不合格模式从筛选、失效分析方面进行了讨论。引言:可编程器件主要包括存储器、PAL、GAL、FPGA等类型的器件。本文主要以存储器为例进行讨论。存储器包括RAM、EPROM、EEPROM、FLASH等。随着集成电路产业的不断发展,存储器从结构和容量都有很大程度的发展和提高。对于有高可靠性要求的使用场合,如何对

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