科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
随着CMOS工艺不断发展,芯片的集成度越来越高。存储器也向大容量、小体积发展。由于存储器容量的不断增加,存储器阵列在生产过程中出现缺陷的可能性将大大增加。为了提高产品的可靠性及经济利益,文章提出了利用硬件和软件冗余技术,将有误的数据及时发现并纠正。接下来分别介绍了硬件冗余和软件冗余的工作原理以及电路的实现方法,并验证了电路的正确性。此次工作,为目前的工作提供了技术基础,并为以后的EEPROM设计工作提供了良好的技术借鉴。
-
单位中国电子科技集团公司第五十八研究所
