分子束外延高Al组分AlGaN薄膜及Si掺杂研究

作者:梁潇; 李思琦; 王中伟; 邵鹏飞; 陈松林; 陶涛; 谢自力; 刘斌; 陈敦军; 郑有炓; 张荣; 王科*
来源:人工晶体学报, 2023, 52(05): 783-790.
DOI:10.16553/j.cnki.issn1000-985x.2023.05.005

摘要

实现电学性能优良的高Al组分AlGaN外延层是制备深紫外光电器件最重要的环节之一。本工作利用分子束外延(MBE)技术,基于周期热脱附的生长方式,通过改变Al源供应量调控Al组分,并用Si进行n型掺杂,在AlN/蓝宝石衬底上得到了系列高Al组分的Si-AlxGa1-xN外延层(x>0.60)。对外延层相关物理性质进行了表征测试,结果表明,外延层Al组分与生长过程中Al束流大小呈现线性关系,这为制备精确Al组分的AlGaN外延层奠定了基础。AFM结果表明,高Al组分AlGaN外延层的表面形貌强烈依赖于Ga的供应量,在生长过程中提高Ga束流可以显著降低外延层的粗糙度。基于范德堡法测量Si-AlGaN外延层电学性能,证实其载流子特性良好,其中Al组分为0.93的样品室温下自由电子浓度、电子迁移率和电阻率分别达到了8.9×1018 cm-3和3.8 cm2·V-1·s-1和0.18Ω·cm。

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