干涉粒子成像技术可测粒径上限分析

作者：付春帅; 吕且妮; 刘浩; 刘泰裕

来源：激光与光电子学进展, 2022, 1-10.

• 干涉粒子成像
• 离焦条纹图
• 粒子尺寸测量
• 最大可测粒径

本文从实验上研究了干涉粒子成像技术(IPI)的最大可测粒子尺寸。分析了同一视场中不同物面导致的物距变化对IPI最大可测粒径的影响。搭建单光束照射的IPI实验系统，对d=51μm和d=110μm的聚苯乙烯(PSL)混合粒子场进行测量，分析了同一视场内不同采集区域的最大可测粒径。实验结果表明IPI技术最大可测粒径受实验系统物距影响，对于一固定参数的实验系统，同一视场内不同采集区域的最大可测粒径不同。

• 单位
  天津大学; 电子工程学院