基于STM32的温度控制实验设计

作者:陈玉敏; 谢玮; 孟宪民
来源:现代电子技术, 2016, 39(12): 37-40.
DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2016.12.009

摘要

设计一种基于STM32单片机的高精度温度控制实验系统,调温范围为15130℃。系统包括测温、控制、人机交互和加热器等模块,使用DS18B20温度传感器测量温度,采用搭载ARM Cortex-M内核的STM32F429单片机作为控制核心,人机交互部分采用TFT显示屏实时显示温度,通过PWM脉冲宽度调制波驱动加热器。该系统可以实现温度的测量变送、控制、数据存储和分析功能。采用自适应性强的模糊PID算法,实现三个控制参数的在线修正。不需要建立被控对象精确模型就能保证加热器功率的实时控制要求,实现较快和较稳的动态性能。实验测试结果证明了该方法的实用性和有效性。

  • 单位
    哈尔滨工业大学(威海)

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