摘要

目的探讨SD大鼠弥漫性轴索损伤(DAI)中c-fos、c-jun基因表达及变化规律。方法将30只SD大鼠分为对照组、实验组、30min组、1h组、2h组、6h组,每组6只大鼠。自制颅脑瞬间DAI模型致伤,采用免疫组织化学技术检测脑损伤后c-fos、c-jun基因表达。结果实验显示脑组织中c-fos、c-jun基因30min即有表达,1h有所增强,2h达到高峰,6h逐渐下降,且皮层、白质、脑干、丘脑、小脑均呈弥漫性表达。结论c-fos、c-jun基因表达的变化规律和特点与颅脑损伤机制、继发性脑损伤有关。

  • 单位
    四川省人民医院; 四川大学华西医院