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摘要
针对工业场景中被检测工件容易受到全局光照干扰,导致条纹二值化边缘误差的问题,提出组合条纹的编码结构光码值修正策略。采用像素异或运算的方法,将传统格雷码转化为多组高频条纹进行投射,根据不同的条纹频率采取对应的解码方式,将码值进行比对修正;针对边缘定位不准确导致的采样点误差问题,采用高频采样条纹,在光照影响下可以准确地获取高密度采样点。通过搭建结构光测量系统进行验证,实验结果表明,测量结果分辨率可达0.5mm,z方向高度误差为0.2mm。
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单位无锡信捷电气股份有限公司; 江南大学
