摘要
制冷型红外探测器的冷屏通常采用直角结构挡光环。经过挡光环侧壁反射的杂散光可以直接到达焦平面,导致探测器的成像质量大幅下降。通过对冷屏挡光环结构进行理论分析,提出了一种可抑制杂散光的挡光环侧壁优化结构。利用LightTools软件对优化前后的冷屏进行了模拟分析。结果显示,杂散光的总功率减少了71.6%。通过实验验证发现,探测器的平均响应非均匀性减少了27.1%,成像效果明显改善。结果表明,这种挡光环侧壁优化结构对于抑制杂散光非常有效。
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单位武汉高德红外股份有限公司