光子测量系统是化学发光检测中的核心部件,在超弱化学发光反应中,光子测量系统的随机干扰将对弱信号的测量结果产生较大影响。本文通过对光子测量系统随机干扰信号特性的研究,提出通过改变积分时间段和化学反应曲线的形状改善信号测量结果的重复性,并进行了实验验证。实验中为消除加样精度对测量结果重复性评价的影响,通过软件仿真的方式获取样本测试数据。通过实验结果表明,在保证反应曲线完整性的条件下,应尽可能缩短积分时间长度;在当前测量系统的条件下,反应曲线的形状越陡峭越有利于提高重复性。
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