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摘要
目前在光谱成像领域建立由空间分辨力的量化测量方法,但在探测器分辨能力不足时,其存在测量时成像位置不同带来测量结果不同的现象。本文提出了一种适用于面阵成像光谱相机空间分辨力的精密测量方法,其基于黑白线对在精密平移下的光谱图像,绘制出单个像素的灰度随位移的变化曲线,理论上通过曲线的分割可获得各种可能成像位置下灰度随像素的分布结果,在实际操作时可仅通过一种曲线分割取点,直接得到各成像位置均能分辨的线对密度值。该方法有效地避免了现有方法在探测器分辨能力不足时的缺陷,通过对一台面成像光谱相机的实验测量验证了其可行性。
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