基于AEC标准的汽车芯片可靠性测试方法研究

作者:王敦; 章慧彬; 张凯虹; 陆坚; 虞勇坚; 闫辰侃
来源:电子设计工程, 2023, 31(14): 103-112.
DOI:10.14022/j.issn1674-6236.2023.14.021

摘要

近年来,自动驾驶技术逐渐成为Tier1汽车电子智能系统的最先进技术,解决自动驾驶技术的关键在于提升自动驾驶芯片的可靠性,保障汽车运行中的安全。目前国内尚未有关于汽车芯片可靠性的标准,该文基于国际AEC-Q100系列标准,结合可靠性加速因子,研究了可靠性测试方法以及数据管控方法,根据参数零件平均测试PPAT方法,优化了静态PAT和动态PAT测试流程,为提高国产汽车芯片质量可靠性提供一定的参考依据。

  • 单位
    无锡中微腾芯电子有限公司

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