上颌腭侧咀嚼黏膜厚度与腭穹窿形态的CBCT研究

作者：薛绯; 张瑞

来源：牙体牙髓牙周病学杂志, 2016, 26(11): 667-671.

DOI：10.15956/j.cnki.chin.j.conserv.dent.2016.11.006

• 锥形束CT(CBCT)
• 腭侧咀嚼黏膜
• 腭穹窿形态

目的:测量汉族人群上颌腭侧咀嚼黏膜厚度,并探讨其与腭穹窿形态间的关系。方法:采用CBCT测量22名受试者上颌尖牙至第二磨牙腭侧正中距离龈缘3、6、9、12 mm处黏膜厚度及腭穹窿宽高比。每名受试者测试42个位点。结果:上颌腭侧黏膜随着距离龈缘越远而逐渐增厚。在距离腭侧龈缘6、9、12 mm处,前磨牙区黏膜厚度明显高于第一磨牙(P<0.05)。在距第二磨牙龈缘9 mm处,高腭穹窿组黏膜厚度低于低腭穹窿组(P<0.05)。结论:腭侧软组织瓣的供区范围以前磨牙区为主。对于低腭穹窿者,采集移植瓣的宽度应适当缩窄,范围可适当向第一磨牙远中延伸;而对于高腭穹窿者,移植瓣的宽度可适当增加,范围可适当向尖牙近中延伸。

• 单位
  首都医科大学附属北京友谊医院; 北京大学口腔医院