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摘要
天线远场测量是获得其辐射特性的一种常用方法，为得到方向图的细节，测量方向图的角度间隔一般应小于待测天线半功率波束宽度的1/10，否则会导致方向图相关参数如半功率波束宽度、副瓣电平等的不准确.针对高增益、窄波束天线的远场测量，为了得到精确测量结果，测量间隔要求非常小，导致测试时间长，测试效率低下.文中提出了一种基于带限周期函数的Fourier插值法的高效率方向图测试方法，此方法将采样间隔增加到待测天线半功率波束宽度量级，仍然可以准确重构出角度间隔任意小的方向图，从而能够显著提高测试效率.仿真和实测结果证明了本方法的可行性.
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