基于X射线图像的PCB缺陷检测系统

作者：林健^*; 詹道桦

来源：现代电子技术, 2023, 46(18): 25-32.

DOI：10.16652/j.issn.1004-373x.2023.18.005

• 印刷电路板(PCB)
• 缺陷检测系统
• X射线图像
• YOLOv7算法
• 多尺度融合
• 损失函数

针对PCB内部缺陷检测速度慢、精度低的问题，提出一种基于X射线图像的PCB缺陷检测系统。该系统算法对YOLOv7进行改进，在Neck区域设计一种高效的特征提取模块，优化Neck区域网络结构，降低模型复杂度。在多尺度特征融合模块引入ACmix注意力机制，增加不同尺度目标特征的权重。将SIoU作为边框损失函数，提高网络的定位能力。实验结果表明：所提系统算法在测试集上的平均准确度均值（mAP）达到了92.8%，比YOLOv7算法提高4.6%；检测速度提升25%，模型计算量降低29%，面对复杂场景具有较强的鲁棒性，能够满足实际工业检测的需求。

• 单位
  广东工业大学