本发明公开了一种高密度柔性IC基板外观缺陷检测方法,包括采集高密度柔性IC基板各部分的高分辨率数字图像；将采集的多张IC基板的高分辨率数字图像拼接成一张完整的柔性IC基板图像；对拼接成完整的柔性IC基板图像进行外观缺陷检测,得到柔性IC基板的外观缺陷检测结果。本发明解决了高密度柔性IC基板生产过程中的外观参数检测难题。
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