电子测试系统的硬件通用设计

作者：刘飞

来源：电子测试, 2022, 36(02): 24-25.

DOI：10.16520/j.cnki.1000-8519.2022.02.032

• 通用测试
• FPGA
• 微波测试

在电子产品多品种、小批量的背景下，给所有产品逐一构建测试环境，不仅不经济、而且研制生产进度也不允许。构建一种通用的测试设备就成了研究的重点。本文探讨测试系统中数字板卡的通用设计。