熔融制样X射线荧光光谱法测定陶瓷中的硅含量

作者：陈美瑜^*; 兰琳

来源：功能材料, 2018, 49(12): 12217-12220.

• X射线荧光光谱法
• 硅
• 陶瓷
• 先驱体转化法
• 氟硅酸钾滴定

采用X射线荧光光谱法测定高性能陶瓷中的硅元素含量,系统研究了熔剂、稀释比、脱模剂、熔融温度与时间对测定结果的影响,并分析了产生这些影响的机理。结果表明,当无水四硼酸锂、碳酸锂、样品三者质量比(m(无水四硼酸锂)∶m(碳酸锂)∶m(样品))=8.0∶1.5∶0.2时,在1 050℃下先预熔5min、再摇摆熔融10min,可以获得高质量的熔片。硅的质量浓度在55%～70%时,相关系数为0.9997,方法检出限为0.81%。硅元素的加标质量为0.02g时,加标回收率为98.5%～99.0%。此方法已应用到日常陶瓷样品的检测。

• 单位
  厦门大学; 材料学院