摘要
综述了扇出型晶圆级尺寸封装(Fan-out wafer level chip size packaging, FOWLP)用低Cu离子迁移率型光敏聚酰亚胺(PSPI)介质材料的研究与应用进展。从FOWLP封装对Cu基再分布层(RDL)用绝缘介质材料的性能需求、PSPI材料在FOWLP封装中RDL绝缘介质中的应用以及具有低Cu离子迁移率特性的PSPI材料的研究与发展现状等角度进行了阐述。重点综述了外加Cu抗氧剂以及Cu离子吸附剂型PSPI介质材料的研究进展、潜在的工程化应用领域以及未来的发展趋势。
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