一种高性能频率合成系统国产化设计

作者:张银红; 胡晓凯; 胡皓云
来源:电子测试, 2022, 36(21): 17-19+32.
DOI:10.16520/j.cnki.1000-8519.2022.21.038

摘要

基于国产化分数分频锁相环器件X214,在20*20mm的PCB上实现了一种小型化宽带低相噪频率合成器,并对其相位噪声、杂散性能、锁定时间等关键性能进行了分析和测试。测试表明该合成器杂散抑制大于80d Bc,其输出频率为1500MHz~2575MHz时,在偏离10k Hz处相位噪声能达到-110d Bc/Hz。

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