高效、准确、可重复地提取功率半导体器件的温度特性并构建其热阻抗模型,对于电力电子系统可靠性研究和热设计具有重要意义。为有效提取功率半导体器件的热阻抗特征参数,结合现有功率半导体器件热阻抗测试相关国际标准,提出了一种新型热阻抗测试系统及控制策略,通过使用DSP控制器及温控散热器共同实现了高效准确的热阻抗测量,并且实现了测试过程的自动化。实验样机搭建完成,验证了测试系统及控制方法的有效性和可重复性。
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