MURR分布式I/0产品在西门子840D系统上的应用及抗干扰性研究

作者：王丽芳

来源：世界有色金属, 2019, (07): 283.

• 数控系统
• 外围环境
• 干扰源
• 抗干扰

分析了环境以及周围干扰源对数控系统稳定性的影响,并对增强数控系统干扰性能的有效措施进行了阐述;针对MURR产品在数控系统上的实际应用,分别从硬件和软件及其它措施方面给出了解决方法。