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摘要
目的研究通过加速试验在较短时间内对高可靠性、小子样电子产品的可靠性进行评估的方法。方法分析可靠性加速试验方案的特点,梳理可靠性加速试验方案制定的基本流程,通过结合数理统计和故障物理技术,研究加速应力的确定方法和加速因子的计算模型,给出加速试验条件及试验时间的确定流程以及相应的试验结果评估方法,并进行案例应用。结果该方法克服了常规可靠性加速试验方案设计中仅依靠经验并需要大样本量的缺点,科学有效地解决了高可靠性、小样本产品的可靠性加速试验方案设计问题,形成了电子设备基于故障物理和数理统计相结合的可靠性加速试验方案设计方法,经验证合理可行。结论该试验方法能够满足当前可靠性要求高、进度紧、受试样品有限的武器装备研制的需求。
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单位中国电子科技集团公司第二十九研究所; 中国航空综合技术研究所
