面向存储器核的内建自测试

作者：檀彦卓; 徐勇军; 韩银和; 李华伟; 李晓维

来源：计算机工程与科学, 2005, (04): 40-42+65.

• 可测试性设计
• 存储器内建自测试
• 故障模型
• March算法 design for test(DFT)
• memory built-in self-test(MBIST)
• fault model
• March algorithm

存储器内建自测试是当前针对嵌入式随机存储器测试的一种经济有效的途径。它实质是 BIST测试算法在芯片内部的硬件实现,形成“片上BIST测试结构”,作为E RAM核与芯片系统其他逻辑电路的接口,负责控制功能,实现片上E RAM的自动测试。根据一个实际项目,本文介绍了MBIST的整体设计过程,并针对测试开销等给出了定量和定性的讨论。

• 单位
  中国科学院研究生院; 中国科学院计算技术研究所