选区激光熔化制备CuSn10薄壁件侧表面粗糙度研究

作者：李忠华; 李霍东; 蒯泽宙; 杨志成; 史京帅; 陈彦磊; 刘斌^*

来源：应用激光, 2022, 42(07): 52-58.

DOI：10.14128/j.cnki.al.20224207.052

• 选区激光熔化
• CuSn10
• 扫描间距
• 侧表面粗糙度

研究了不同激光功率与扫描速度对SLM成形的单道CuSn10薄壁侧表面的表面形貌与粗糙度的影响，得出最优成形工艺；以上述工艺成形双道CuSn10薄壁件并研究了不同扫描间距对两成形侧表面粗糙度的影响；以上述扫描间距作为轮廓偏移量制备长直线扫描填充与短直线扫描填充的0.5 mm薄壁件。研究结果表明：在激光功率为195 W,扫描速度为550 mm/s时，成形单道薄壁件平均粗糙度最低为2.3μm±0.2μm;随着扫描间距的增大，第二成形面粗糙度减小，在扫描间距为120μm、140μm、160μm时，两平行熔道相互作用较低，对粗糙度影响较小；短直线扫描填充策略比长直线扫描填充策略成形的薄壁件侧表面粗糙度更小。当偏移量为160μm时，短直线扫描填充成形薄壁件侧表面平均粗糙度最小，达到2.27μm±0.4μm。

• 单位
  中北大学