科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
工业计算机断层成像(computed tomography, CT)可以无损获得被检器物的结构组成、材质分布和密度变化等内部信息，是文物结构特征和材质分布无损分析的常用方法之一。由于文物的材料种类繁多、厚度不一、器形复杂，其工业CT扫描结果会伴随一定的伪影——伪影会严重降低图像质量，甚至导致无法准确判断文物的内部结构。因此，需要寻找避免或减弱CT伪影的方法。CT成像的伪影源于多种因素：物理因素导致的伪影和CT投影数据采集过程有关；样品因素导致的伪影和样品的摆放、结构和材料有关；CT算法伪影和CT设备所使用的软件及重建算法有关。其中有些伪影可以通过软件校准减少，但在许多情况下，通过样品的合理摆放和选择合适的CT扫描参数是避免CT伪影的最佳手段之一。本文列举CT检测文物中所遇到的一些常见伪影，并解析这类伪影的消除或减弱的方法，以期为今后CT检测文物提供一定的借鉴作用。
-
单位上海博物馆
