薄膜法X射线荧光光谱对重金属铬元素检测研究

作者：甘婷婷; 张玉钧; **京; 殷高方; 董欣欣; 王亚萍; 刘建国; 刘文清

来源：光学学报, 2014, (07): 297-302.

• X射线光学
• Cr检测
• X射线荧光
• 薄膜法
• 重金属
• 富集

研究了重金属Cr元素薄膜法X射线荧光(XRF)光谱分析中的滤膜,结果表明亲水性聚四氟乙烯滤膜对Cr元素富集具有较好的均匀性,并且对该滤膜上Cr元素进行XRF光谱测量具有较好的灵敏度。利用亲水性聚四氟乙烯滤膜对不同浓度的Cr元素进行富集,并且利用XRF光谱进行测试,结果表明当Cr元素的面积浓度在3.84~167μg·cm-2范围内时,Cr元素XRF光谱中Kα特征谱线的积分荧光强度与Cr元素的面积浓度之间具有非常好的线性关系,线性相关系数为0.996,检测限为0.3μg·cm-2。对实验室水龙头出来的自来水水样进行加标回收实验,得到回收率在93.85%~101.95%之间,相对标准偏差小于2%。因此,以亲水性聚四氟乙烯滤膜为富集滤膜的薄膜法XRF光谱分析法,能够很好地应用于水样中重金属Cr元素的分析与检测。

• 单位
  中国科学院安徽光学精密机械研究所; 中国科学院，安徽光学精密机械研究所