电力控制系统中CCGA失效预测分析

作者:张有晶; 王辰宇; 刘鼎
来源:电子工艺技术, 2020, 41(01): 43-47.
DOI:10.14176/j.issn.1001-3474.2020.01.012

摘要

陶瓷柱栅阵列在一些高性能电力控制系统中具有非常重要的作用,其焊点可靠性直接影响控制系统的性能及可靠性。通过建立双参数的人工神经网络失效预测模型,形成具有普遍适用性的陶瓷柱栅阵列焊点空洞率预测方法。设计了陶瓷柱栅阵列焊点失效试验的方案,并对试验数据结果进行了初步的分布特点与统计特征分析。结合得到的数据结果,对神经网络模型进行双参数特征的训练,将模型的预测结果与单变量特征预测方法进行对比,并将预测模型应用于实际生产中,验证了该预测模型的有效性和优越性。

  • 单位
    北京航天控制仪器研究所; 中国航天标准化研究所; 内蒙古大唐国际托克托发电有限责任公司

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