TiO_2纳米管薄膜的脱层现象(英文)

作者：邹俭鹏; WANGRi-zhi

来源：Transactions of Nonferrous Metals Society of China, 2012, (11): 2691-2699.

• TiO2纳米管
• 界面剪切强度
• 脱层行为
• 脱层密度
• 脱层半径
• 内残余应力 TiO2 nanotube
• interfacial shear strength
• debonding behavior
• debonding density
• debonding radius
• internal residued stress

分别通过曲率法和基体拉伸应变测试方法研究TiO2纳米管薄膜的残余应力和脱层行为。结果表明:TiO2纳米管薄膜的内残余应力为-54MPa。TiO2纳米管薄膜室温样、250°C退火样和400°C退火样的脱层出现点的应变依次为2.6%、5.1%和8.6%,半径依次为27.5、17.1和19.4μm。TiO2纳米管薄膜室温样、250°C退火样和400°C退火样的真实临界脱层应力为220.4、394.5和627.9MPa。在脱层条件下,对界面剪滞模型进行修订,并对TiO2纳米管薄膜界面剪切强度进行多项式拟合。由于拟合结果与裂纹密度的分析结果能很好吻合,因此界面剪滞模型的修订方程和多项式拟合方程均为可信的...

• 单位
  中南大学; 粉末冶金国家重点实验室