TetraMAX ATPG作为业界性能较优的自动测试向量生成工具,能够使用较短时间产生高故障覆盖率的测试向量集.本文通过对TetraMAX ATPG产生的初始测试向量集进行建模,提出了基于最小集合覆盖求解方法的最小完备测试集生成方法,利用这一算法可以在保证测试向量集故障覆盖率不变的基础上有效地缩减测试集规模,从而降低电路测试成本.实验结果表明该方法对于固定故障类型和静态电路故障类型均具有良好的约简效果.
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