220 kV悬式瓷绝缘子零值原因研究

作者：王万昆; 周学明; 胡丹晖; 冯志强; 毛晓坡; 徐梦娜

来源：湖北电力, 2019, 43(05): 27-32.

DOI：10.19308/j.hep.2019.05.005

• 零值绝缘子
• 工频击穿
• 绝缘电阻
• 贯穿通道

为了研究悬式瓷绝缘子零值形成原因,对在运220 kV劣化瓷绝缘子进行取样,并对取样绝缘子进行机械、电气和材料性能试验研究。试验结果表明:此次瓷绝缘子低值或零值原因可以分为三种类型。瓷绝缘子头部侧面位置发生击穿(类型一)的原因可能是运输安装过程中发生碰撞或者运行老化;瓷绝缘子发生炸裂(类型二)的原因是瓷质中Al2O3含量较低,机械强度不达标;瓷绝缘子头部正上方位置发生击穿(类型三)的原因是制作工艺把控不严,在出厂前未能完全剔除存在质量缺陷的绝缘子,一定程度上增加了投运后受外力损伤的几率。以上研究结果为进一步开展瓷绝缘子劣化原因分析和质量源头管控提供了科学的基础试验数据和强有力的技术支撑。