Sm,Pr双掺CeO2基固体电解质的合成及性能研究

作者：魏白光; 吕秋月

来源：吉林化工学院学报, 2018, 35(09): 107-110.

DOI：10.16039/j.cnki.cn22-1249.2018.09.024

• 溶胶-凝胶法
• Ce0.8Sm0.2-xPrxO1.9
• X-射线衍射
• 电导率

利用溶胶-凝胶法合成固体电解质Ce0.8Sm0.2-xPrxO1.9(x=0.020.08),通过用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、拉曼光谱(Raman)和交流阻抗谱对固溶体的微结构和电性能进行了表征.XRD分析结果表明:经800℃烧结2 h后样品均为单相立方萤石结构,平均晶粒尺寸为3546 nm之间.AFM图像表明,样品晶粒近似球形,分布较均匀,Pr离子掺入后,空洞明显减小,当掺杂量x=0.08时,晶界有小颗粒生成,晶粒尺寸为28μm之间.Raman结果表明:Ce0.8Sm0.2-xPrxO1.9是具有氧空位的立方萤石结构,镨离子的掺杂有利于氧空位的形成.交流阻抗测试表明,随着Pr离子的掺杂量的增加Ce0.8Sm0.2-xPrxO1.9的电导率逐渐提高,活化能降低.

• 单位
  吉林化工学院