复合绝缘子憎水特性与其微观特性的对应关系

作者：晏年平^*; 房子祎; 周东; 刘玉婷; 陈灿; 贾志东

来源：高电压技术, 2019, 45(06): 1745-1753.

DOI：10.13336/j.1003-6520.hve.20190604009

• 复合绝缘子
• 憎水特性
• 傅里叶红外光谱
• X射线光电子能谱
• X射线衍射

为研究复合绝缘子憎水特性与其微观特性的对应关系,选取江西电网4串线路复合绝缘子进行憎水性及憎水性迁移试验,采用傅里叶变换红外光谱(FTIR)、X射线光电子能谱(XPS)以及X射线衍射(XRD)等微观分析技术,研究了绝缘子表面元素含量及化合态以及微观结构变化情况。研究发现,表面粉化严重的绝缘子保持较高的静态接触角,与其粉化后表面粗糙度上升密切相关;静态接触角不能作为评估粗糙表面憎水性的唯一依据,应结合绝缘子表面是否保持有足够含量的憎水性基团进行评估。复合绝缘子憎水迁移性能优劣与其表层是否存在硅氧烷XRD衍射峰具有良好的对应关系,建议测量复合绝缘子表层是否存在硅氧烷XRD衍射峰,判断其憎水迁移性能否满足继续运行要求。

• 单位
  国网江西省电力有限公司; 清华大学深圳研究生院; 国网江西省电力公司电力科学研究院