采用XRD、SEM和固体核磁等分析方法研究低硅铝比X型分子筛(LSX型分子筛)形成过程。研究表明:老化过程中,LSX型分子筛成核速度慢,诱导期长;晶化过程中,LSX型分子筛晶体生长速度快,先出现A型分子筛杂晶,随着晶化时间延长,A型分子筛杂晶逐渐消失,晶化3 h以上得到纯相LSX型分子筛,并在扫描电镜中观察到A型分子筛杂晶先产生后消失的过程。